美國科諾研制版本光學接觸角儀中標香港科技大學納米與材料研究院

美國科諾研制版本光學接觸角儀中標 "香港科技大學納米與材料研究院"。這是科諾產品推向應用用戶的一個新里程，也是對科諾產品的性能、技術、服務的一個肯定。

美國科諾將繼續加大亞太地區的研發投入，與廣大用戶和同行一起不斷提升光學法界面化學分析的關鍵技術，擴大界面化學分析儀器應用范圍。
比如，美國科諾已經在界面化學Young-lalapalace方程擬合技術上取得重大突破，不久就將引入第四代真實液滴法（TrueDrop） Y-L方程擬合求解界面張力、振蕩分析、接觸角分析的技術。這是一種突破，實現了由BA表*代擬合技術和1996年德國柏林理工大學的Spinger教授提出的基于“B”概念的Young-Lapalace方程擬合法的第二代擬合技術，至Newmann教授的龍格庫拉解法下的第三代擬合技術，向第四代基于真實液滴法（RealDrop^TM）法的Young-Lapalace擬合技術突破。第四代技術的關鍵點在于，我們將利用美國科諾強大的圖像分析技術，真正解決*代與第二代技術的經驗性假設誤差、第三代技術自動化程度的關鍵問題，從而提高了分析速度、重復性、人為因素影響等對界面張力測值的影響。此時，明顯的表現是，我們不再像第二代技術那種必須假設取得理想的B=0.7時需要根據經驗和估算界面張力值，選用相應針頭的問題。我們認為，界面張力測值與針頭的直徑的選取就是一個經驗判斷。這個判斷會造成相當的誤差與人為影響。